本發(fā)明實(shí)施例公開了一種掃描失敗率的預(yù)測(cè)方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)。該方法應(yīng)用于運(yùn)行有實(shí)時(shí)操作系統(tǒng)的掃描失敗率的預(yù)測(cè)設(shè)備上,可以包括:在監(jiān)測(cè)到失效測(cè)試的觸發(fā)事件時(shí),獲取測(cè)試開始時(shí)間且執(zhí)行觸發(fā)事件對(duì)應(yīng)的失效測(cè)試腳本,其中,失效測(cè)試腳本是用于模擬待運(yùn)行于實(shí)時(shí)操作系統(tǒng)上的磁共振軟件進(jìn)行磁共振掃描時(shí)的掃描流程的腳本;在失效測(cè)試腳本執(zhí)行完畢后獲取測(cè)試結(jié)束時(shí)間,并根據(jù)測(cè)試開始時(shí)間、測(cè)試結(jié)束時(shí)間和失效時(shí)間更新失效次數(shù);基于失效次數(shù)和測(cè)試次數(shù)確定磁共振軟件的實(shí)時(shí)失效率,并根據(jù)實(shí)時(shí)失效率預(yù)測(cè)磁共振軟件的掃描失敗率。本發(fā)明實(shí)施例的技術(shù)方案,可以在將磁共振軟件應(yīng)用于現(xiàn)場(chǎng)環(huán)境前快速預(yù)測(cè)出磁共振軟件的掃描失敗率。
聲明:
“掃描失敗率的預(yù)測(cè)方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)