本發(fā)明公開了一種基于導(dǎo)電涂層電阻變化監(jiān)測(cè)密封表面磨損的測(cè)試系統(tǒng),其特征在于,包括機(jī)械端面密封、電阻測(cè)試模塊及導(dǎo)線輸出模塊;所述電阻測(cè)試模塊包括多個(gè)電阻測(cè)試儀表及連接節(jié)點(diǎn),所述連接節(jié)點(diǎn)位于電阻測(cè)試儀表的兩端,所述連接節(jié)點(diǎn)與測(cè)試節(jié)點(diǎn)一一對(duì)應(yīng);所述導(dǎo)線輸出模塊,包括引出導(dǎo)線、引入導(dǎo)線及接線座,所述引出導(dǎo)線與測(cè)試節(jié)點(diǎn)相連接,所述引入導(dǎo)線與連接節(jié)點(diǎn)相連接,所述引出導(dǎo)線、引入導(dǎo)線分別與接線座相連接。本發(fā)明將機(jī)械密封表面磨損狀態(tài)與其電阻值變化相關(guān)聯(lián),并通過外置的陣列電阻測(cè)試儀表讀數(shù)及預(yù)先獲得的導(dǎo)電涂層磨損?電阻關(guān)聯(lián)模型,實(shí)現(xiàn)在役的內(nèi)置機(jī)械密封端面磨損狀態(tài)實(shí)時(shí)在線在位智能監(jiān)測(cè),進(jìn)而預(yù)判密封系統(tǒng)的失效情況,提高密封系統(tǒng)的運(yùn)行可靠性。
聲明:
“基于導(dǎo)電涂層電阻變化監(jiān)測(cè)密封表面磨損的測(cè)試系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)