本發(fā)明提供了一種集成電路成品測試有效性的監(jiān)控方法，采取優(yōu)化的日志結(jié)構(gòu)記錄成品測試的唯一識別碼與對應(yīng)的成品測試結(jié)果，利用唯一識別碼與對應(yīng)的成品測試結(jié)果還原出成品測試產(chǎn)出的晶圓MAP平面圖，通過向上溯到晶圓測試時的數(shù)據(jù)，可保證成品測試結(jié)果的有效性,還可以還原出失效芯片位置分布，該監(jiān)控方法能夠用于跟蹤減劃、封裝過程等工藝的相關(guān)性分析。