本發(fā)明公開了一種集成電路晶圓測試數(shù)據(jù)自動判斷系統(tǒng)，系統(tǒng)包括產(chǎn)品登記模塊、內(nèi)控運算模塊、實時數(shù)據(jù)分析模塊、數(shù)據(jù)推送模塊、人工解鎖模塊；本發(fā)明提供的一種集成電路晶圓測試數(shù)據(jù)自動判斷系統(tǒng)，晶圓數(shù)據(jù)自動判斷系統(tǒng)只需要工程師將需要分析的產(chǎn)品錄入到系統(tǒng)中，錄入內(nèi)容包含外控良率標準、Map圖失效圖形、DC測試項等，設置每天定時去分析登記的產(chǎn)品歷史測試數(shù)據(jù)，設置為內(nèi)控良率標準。每當有晶圓測試完成后系統(tǒng)將各種判斷標準結合起來共同判斷，當系統(tǒng)判斷出結果異常時會推送給工程師查看，工程師確認無誤后再通過系統(tǒng)進行解鎖，否則無法進入下一個流程，而沒有異常時則可自動進入下一個流程。