一種失效檢測與分類模型的運(yùn)作方法與運(yùn)作裝置。失效檢測與分類模型的運(yùn)作方法包括以下步驟。連續(xù)獲得數(shù)張檢測曲線圖。判斷這些檢測曲線圖是否已由一第一波形變更為一第二波形。若這些檢測曲線圖已由第一波形變更為第二波形，則判斷這些檢測曲線圖中是否至少N張變更為第二波形。若這些檢測曲線圖中至少N張變更為第二波形，則自動切割變更為第二波形的這些檢測曲線圖，以獲得數(shù)個(gè)視窗。對各個(gè)視窗自動設(shè)定一算法。通過各個(gè)算法，獲得各個(gè)視窗之一指標(biāo)數(shù)據(jù)。依據(jù)這些指標(biāo)數(shù)據(jù)對失效檢測與分類模型進(jìn)行再訓(xùn)練。