本發(fā)明公開了一種表面缺陷檢測任務(wù)的正常樣本無損生成方法,包括如下步驟:快速定位未標(biāo)注NG樣本的缺陷區(qū)域;使用目標(biāo)檢測算法檢測NG樣本中的缺陷;融合精篩的檢測框;提取缺陷區(qū)域,將缺陷回歸框的長和寬放大;搜索匹配正常樣本區(qū)域,在缺陷以外的圖像區(qū)域匹配與放大后的缺陷回歸框同等大小的正常樣本區(qū)域,并進(jìn)行正常樣本提??;替換有缺陷區(qū)域的前景,生成無損的正常樣本。
聲明:
“表面缺陷檢測任務(wù)的正常樣本無損生成方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)