本發(fā)明公開了一種非貴金屬催化劑膜電極耐久性測試方法,包括分別測試膜電極初始的極化曲線、歐姆阻抗與陰極催化層質(zhì)子傳導(dǎo)阻抗,然后對膜電極進(jìn)行恒壓放電的衰減測試,再測試膜電極衰減后的極化曲線、歐姆阻抗與陰極催化層質(zhì)子傳導(dǎo)阻抗,然后向膜電極通入干燥氮?dú)獯祾撸詈笥?a href="http://m.189000b.com/meet_show-181.html" target="_blank">電化學(xué)工作站測試膜電極氮?dú)獯祾吆髽O化曲線。本發(fā)明針對非貴金屬催化劑膜電極,通過測試膜電極恒壓放電衰減前后的極化曲線、歐姆阻抗與陰極催化層質(zhì)子阻抗以及膜電極氮?dú)獯祾咔昂蟮臉O化曲線,測試條件與膜電極測試條件相同,測試數(shù)據(jù)真實(shí)可靠。可以從活化極化、歐姆極化和傳質(zhì)極化三個(gè)角度全面進(jìn)行膜電極耐久性測試,對非貴金屬催化劑膜電極的開發(fā)具有重要意義。
聲明:
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