本發(fā)明涉及硬盤性能測試領域，具體涉及一種基于fio與ipmitool的硬盤來料檢驗方法，實現(xiàn)了對硬盤的自動化檢測，極大地提高了檢測效率以及準確性。技術方案包括：設置來料檢驗需要的循環(huán)開關機次數(shù)，確定需要收集信息的待測硬盤以及收集硬盤smart信息的方式，通過fio工具對待測硬盤進行IO讀寫，在待測硬盤IO讀寫進行時，通過ipmitool工具進行服務器重啟，強制中斷待測硬盤的IO讀寫過程，并重新啟動服務器運行，重啟后，自動收集所有硬盤的smart信息，并生成測試結果文件存放路徑，將記錄硬盤的smart信息日志文件存放到路徑目錄下，目錄名稱與循環(huán)次數(shù)相關聯(lián)，循環(huán)完成后，對整個過程的日志文件進行自動識別、分析、判斷，輸出測試結果。本發(fā)明適用于硬盤性能檢測。