本發(fā)明提供的一種電子元件性能數(shù)據(jù)檢測(cè)方法，涉及數(shù)據(jù)處理技術(shù)領(lǐng)域。在本發(fā)明中，獲取性能檢測(cè)設(shè)備對(duì)多個(gè)待檢測(cè)的電子元件分別進(jìn)行的多次性能檢測(cè)處理得到的多組性能檢測(cè)數(shù)據(jù)，其中，每一組性能檢測(cè)數(shù)據(jù)包括對(duì)應(yīng)的一個(gè)電子元件通過(guò)進(jìn)行多次性能檢測(cè)得到的多條性能檢測(cè)數(shù)據(jù)，性能檢測(cè)設(shè)備用于在檢測(cè)得到性能檢測(cè)數(shù)據(jù)之后發(fā)送給性能數(shù)據(jù)處理服務(wù)器；基于多組性能檢測(cè)數(shù)據(jù)，確定性能檢測(cè)設(shè)備是否存在異常；若確定性能檢測(cè)設(shè)備不存在異常，則對(duì)多組性能檢測(cè)數(shù)據(jù)進(jìn)行解析處理，得到每一個(gè)電子元件的性能是否存在異常的解析結(jié)果。采用以上步驟對(duì)電子元件的性能檢測(cè)異常解析，可以使得得到的解析結(jié)果具有較高的可靠性。