X射線實時成像檢測系統(tǒng)可用于對各類金屬鑄件、汽車零部件、焊接件、塑料制品、橡膠制品、耐火材料、樹脂材料、復(fù)合材料和陶瓷體等各種產(chǎn)品進行在線式無損檢測。該系統(tǒng)適用于軍工、航空、航天、裝備制造、電子、汽車、高鐵等行業(yè)。
S3直讀光譜儀是意大利GNR公司推出的一款高性能全譜直讀光譜儀,采用多項領(lǐng)先技術(shù),如串行讀出系統(tǒng)設(shè)計和TRS火花激發(fā),確保了優(yōu)異的分析性能和極高的性價比。該儀器覆蓋了從130nm到800nm的全譜范圍,配備高分辨率CMOS檢測器和3600條/mm的高精度光柵,能夠滿足絕大多數(shù)金屬檢測需求,包括鑄鐵、鋁合金、不銹鋼、鋅合金等多種材料。其檢測精度高,尤其在紫外區(qū)元素(如P、S、B)的測量上表現(xiàn)出色。此外,S3還具備智能單點校準和波長實時校準功能,可有效應(yīng)對漂移,確保測量結(jié)果的穩(wěn)定性和準確性。
GNR ProSpector手持式X射線熒光光譜儀采用了最先進的X射線光管控制技術(shù)及最領(lǐng)先的探測器數(shù)據(jù)讀出系統(tǒng),每秒可接受的X射線光子數(shù)突破了X射線熒光光譜儀可接受的上限,因此儀器可獲得非常精準的檢測結(jié)果。同時,由于可接受到的X射線光強度更高,一些難以檢測的輕元素可以得到更低的檢出限以及更準確的結(jié)果。
除了高頻感應(yīng)爐類型的EMIA-Expert/Pro系列碳硫儀外,管式電阻加熱爐類型的碳硫分析儀EMIA-Step已新增到我們的碳/硫分析儀陣容中。除了高精度和高靈敏度的分析外,其可變加熱溫度功能通過溫度和條件設(shè)定,實現(xiàn)了不同形態(tài)碳硫的獨立定量分析和總量分析。
EMGA-921型氫分析儀是氫分析的旗艦機型和人性化儀器的典范。這是一款高精度、高重復(fù)性的氫元素分析儀,適用于鋼鐵、新材料、催化劑等領(lǐng)域的尖端材料研發(fā)和質(zhì)量控制。這是經(jīng)過優(yōu)化以適應(yīng)用戶的要求全新產(chǎn)品。
金屬和固體材料(包括鋼鐵、各種有色金屬、陶瓷和電子材料)的特性和性能取決于氧、氮和氫的含量。在材料的研究和性能分析中,元素含量檢測的高精度和分析用的樣品量少的要求變得越來越重要。EMGA系列氧/氮/氫分析儀顯著減少了分析時間和成本,同時提高了分析精度和設(shè)備關(guān)鍵性能。EMGA系列還追求可用性,強力支持提高材料研發(fā)和質(zhì)量控制的效率。
ORTEC α譜儀系列包括Alpha AriaTM,單NIM寬; Alpha DuoTM緊湊的雙路臺式系統(tǒng);模塊式2, 4, 6或8通道Alpha EnsembleTM。Alpha Ensemble可以直接放在桌面上也可以裝配在19英寸的支架中。Alpha Duo模塊的每個通道都裝有真空計;可調(diào)探測器偏壓(正或負);前置放大器;幅度可調(diào)的測試脈沖發(fā)生器;漏電流監(jiān)測器。每個通道都有各自的數(shù)字穩(wěn)譜和增益轉(zhuǎn)換設(shè)置。各探測器可獨立工作,探測范圍0~10MeV可調(diào)。脈沖發(fā)生器幅度調(diào)節(jié)范圍也為0~10MeV。探測器偏壓0~±100V可調(diào)。硬件控制,數(shù)據(jù)獲取,探測器偏壓,漏電流全都通過軟件顯示和控制。
材料的熱物理性質(zhì)以及最終產(chǎn)品的導(dǎo)熱優(yōu)化在各種工業(yè)應(yīng)用領(lǐng)域變得越來越重要。經(jīng)過幾十年的發(fā)展,在測量各種固體、粉末和液體熱導(dǎo)率和熱擴散系數(shù)中閃射法已經(jīng)成為最常用的測量方法。Linseis LFA 1000激光導(dǎo)熱系數(shù)測試儀采用模塊化設(shè)計的最精密的熱擴散系數(shù),熱導(dǎo)率和比熱的測量儀器??赏瑫r測量6個樣品??梢赃x用多種不同的樣品架,適用于固體,液體,熔體和爐渣。緊湊的設(shè)計使得硬件和電子元件分離,安裝一個外罩后可以適應(yīng)于核應(yīng)用。采用自主設(shè)計的樣品池,實現(xiàn)了液體樣品導(dǎo)熱系數(shù)/熱擴散系數(shù)的測量。
石墨中水分含量測試設(shè)備:性能指標:分析天平:檢定精度:0.001g;測量范圍:0-120g;電熱恒溫鼓風(fēng)干燥箱:溫度波動 ± 1 ℃;控溫范圍 :50-300℃;
石墨中體積密度含量測試設(shè)備:分別采用天平和外徑千分尺測量烘干后石墨樣品的質(zhì)量和體積;根據(jù)體積密度公式計算得出石墨的體積密度。
STA449F3可同時進行熱重分析(TG)和差示掃描量熱分析(DSC),擁有最高的靈敏度與最佳的重復(fù)性,用于反應(yīng)/轉(zhuǎn)變溫度與熱焓,以及比熱的測量。STA449F3與氣體分析系統(tǒng)QMS 403 Aёolos ?質(zhì)譜儀聯(lián)用,使用熱質(zhì)聯(lián)用技術(shù),在同一次測量中除檢測樣品的重量變化與熱效應(yīng)之外,還可同時對逸出氣體進行鑒別和定量分析。
穆斯堡爾譜儀利用原子核的無反沖共振吸收效應(yīng)(穆斯堡爾效應(yīng))測量穆斯堡爾核與超精細場的相互作用,可以獲得其價態(tài)、自旋態(tài)、配位環(huán)境及物相等信息。穆斯堡爾譜具有分離率高、抗干擾能力強等特點,在物理學(xué)、化學(xué)、材料科學(xué)、物理冶金學(xué)、生物學(xué)和醫(yī)學(xué)、地質(zhì)學(xué)、礦物學(xué)和考古學(xué)等領(lǐng)域均有廣泛的應(yīng)用。
紅外光譜對樣品的適用性相當(dāng)廣泛,固態(tài)、液態(tài)或氣態(tài)樣品都能應(yīng)用,無機、有機、高分子化合物都可檢測。此外,紅外光譜還具有測試迅速,操作方便,重復(fù)性好,靈敏度高,試樣用量少,儀器結(jié)構(gòu)簡單等特點,因此,它已成為現(xiàn)代結(jié)構(gòu)化學(xué)和分析化學(xué)最常用和不可缺少的工具。Frontier是PE公司一款高端紅外光譜儀,使用該儀器不僅可以獲得中紅外光譜,還可以獲得近紅外光譜,輔以ART附件,可以實現(xiàn)固體樣品的快速測定,免除了先前通過溴化鉀等壓片的繁瑣步驟。另外,通過我們自己設(shè)計的加熱爐和樣品池,實現(xiàn)了高達600℃溫度液態(tài)樣品的檢測。
ENTERRA使用非鎖頻激光器,結(jié)合“Sure-Cal”實時波長校準專利技術(shù),保證每一次測量開始前讀出準確的激光波長。配備532nm、633nm、785nm三種激光波長的激光器,能量選擇范圍廣,掩蓋0.5-100mW。配備加熱臺用于高溫拉曼測試,最高溫度可達到900℃。
X射線衍射儀主要測試功能包括X射線粉末衍射、掠入射衍射及高溫(~1200℃)條件下的X射線衍射,能夠提供粉末、塊狀、液態(tài)的多晶樣品的常規(guī)物相分析和半定量分析,晶胞參數(shù)的測定、修正、未知多晶樣品的X射線衍射指標化、晶粒尺寸和結(jié)晶度測定。還可對材料的殘余應(yīng)力、織構(gòu)及薄膜反射率進行測試和分析。配備的LynxEye XE陣列探測器共由192個子探測器陣列組成,具有優(yōu)異的分辨率及信噪比;探測效率是普通閃爍探測器的10倍以上,普通樣品可在7分鐘左右測試完成;具有優(yōu)異的能量分辨率,無需單色器,即可有效去除含鐵樣品的熒光。
飛行時間——二次離子質(zhì)譜儀(TOF-SIMS)采用質(zhì)譜技術(shù)分析材料表面原子層以確定表面元素組成和分子結(jié)構(gòu)。其工作原理是樣品表面被高能聚焦的一次離子轟擊時,一次離子注入被分析樣品,把動能傳遞給固體原子,通過層疊碰撞,引起中性粒子和帶正負電荷的二次離子發(fā)生濺射,再通過測量不同二次離子的飛行時間測量它們的質(zhì)量/荷質(zhì)比,對被轟擊的樣品的表面和內(nèi)部元素分布特征進行分析。二次離子質(zhì)譜可以分析包括氫在內(nèi)的全部元素,并能給出同位素的信息、分析化合物組分和分子構(gòu)成,靈敏度好、質(zhì)量分辨率高、可測量的分子量范圍大
電子探針(EPMA)是用極細的電子束對樣品表面進行照射產(chǎn)生特征性X射線,對特征性X射線進行分光和強度測定,得到微小區(qū)域的元素組成及樣品表面元素濃度分布的分析裝置。EPMA 采用波長色散型X 射線分光器(WDS),與能量色散型X 射線分光器(EDS)相比,具有高分辨率的特點。本實驗室裝備有日本島津公司生產(chǎn)的EPMA-1720電子探針顯微分析儀,配備4道波譜儀,同時配備AZtec X-Max 80牛津能譜儀,可對試樣進行微小區(qū)域成分分析,可對5B~92U范圍的元素進行定性和定量分析。
日本理學(xué)ZSX Primus下照射熒光光譜儀,可對從O到U之間的元素進行定量和半定量元素測量,具有超尖銳超薄窗X射線管(75um);流氣式和高能閃爍式探測器;堅固耐用,精確和快速的獨立轉(zhuǎn)動測角儀。
SPECTROMAXx的直讀光譜儀的一個顯著特點是用于測定金屬行業(yè)要分析的化學(xué)元素,包括:碳 ( C ),磷 ( P ),硫 ( S ),特別是能實現(xiàn)氮 ( N )元素的分析。配有完備的工作曲線校正模塊,具備同時進行十種不同基體分析的能力,如:Fe,AI,Cu,Ni,Co,Ti,Mg,Zn,Pb,Sn等。覆蓋了全元素分析范圍,可根據(jù)具體需要分析相應(yīng)的元素。SPECTROMAXx應(yīng)用范圍非常廣泛,適合壓鑄、熔儔,鋼鐵或有色金屬行業(yè)的爐前金屬分析要求,進、出廠材料檢驗經(jīng)及汽車、機械制造等行業(yè)的金屬材料分析。
Nu AttoM 是高分辨率等離子體質(zhì)譜儀,分辨率最大到10000以上,且連續(xù)可調(diào),從而保持最大的靈敏度,很好的分離干擾因素。Nu AttoM 采用了快速掃描技術(shù),克服了常規(guī)高分辨率ICP-MS掃描速度慢的缺點,非常適合和激光燒蝕系統(tǒng)(LA)連接使用進行原位同位素研究,可提高同位素比值的精度。真空系統(tǒng)穩(wěn)定可靠,背景超低。
Spectra Arcos不同于傳統(tǒng)的ICP光譜儀,采用帕邢-龍格CCD光學(xué)系統(tǒng),可獲得8.5pm的分辨率;采用專利的遠紫外區(qū)UV-Plus光學(xué)系統(tǒng),光室無須吹掃或真空,開機即可使用;采用帶陶瓷功率管的新型自激式固態(tài)發(fā)生器和電源,高光通量的真空紫外光室波長達130nm,數(shù)據(jù)讀出系統(tǒng)的動態(tài)范圍達8個數(shù)量級,瞬間測量頻率達10Hz;專利的智能邏輯校正(ICAL)系統(tǒng)可持續(xù)監(jiān)控儀器的工作狀況并自動校準,確保儀器在最佳狀態(tài)下運行;可分析包括ppm級鹵素在內(nèi)的73個金屬和非金屬元素。
利用SPM系統(tǒng),可綜合采用PIXE、PIGE、ERD、RBS等離子束分析方法,實現(xiàn)多種元素成份分析;可測定微區(qū)元素分布??梢杂糜诓牧稀⑸镝t(yī)學(xué)、環(huán)境、地質(zhì)樣品的多種微量化學(xué)元素成份和微區(qū)結(jié)構(gòu)的無損分析。
ICS-2100是集淋洗液在線發(fā)生器和免化學(xué)試劑電解樣品前處理裝置于一體的離子色譜儀,同時具有等度和梯度淋洗功能。2 mm體系色譜柱與4 mm體系色譜柱均可在該儀器上完成工作。ICS-2100免化學(xué)試劑電解樣品前處理離子色譜儀,利用閥切換和電解水原理,可以用于多種基體樣品的不同前處理。
該分析系統(tǒng)是一個集成了水分析儀(DF745)、氧分析儀(DF310)與氣路切換盤(標氣、零級純化氣、樣品氣)、數(shù)據(jù)記錄儀等輔助測量配件的有機體。DF745微量水分析儀基于朗伯-比爾定律,采用可調(diào)諧二極管激光吸收光譜法可檢測0-20ppm范圍內(nèi)惰性氣體中的水含量,其檢測限可達到2ppb。DF310E采用非消耗性的庫倫電化學(xué)傳感器,可檢測0-100ppm范圍內(nèi)惰性氣體中氧含量,其檢測限可達到50ppb。
LECO O836采用專利的動態(tài)流量補償(DFC)保證熱導(dǎo)池氣體流量、壓力恒定。以及改進的紅外檢測池技術(shù)——恒溫絕熱技術(shù)消除了外界環(huán)境溫度的干擾;長壽命的紅外發(fā)射光源和無漂移的電路設(shè)計保證紅外檢測池的長期穩(wěn)定;氧高低雙量程采用3個碳紅外檢測器,同時檢測一氧化碳和二氧化碳,保證準確定量。
分析樣品在脈沖爐內(nèi)石墨坩堝中加熱熔融(溫度可自由設(shè)定,并通過光學(xué)溫度傳感器進行實時監(jiān)控),用于實現(xiàn)樣品的完全分解,反應(yīng)所生成的CO 、H2和N2被惰性載氣帶入到高穩(wěn)定性和靈敏度的檢測系統(tǒng);對CO的檢測采用非色散性紅外檢測器,對N2和H2的檢測采用熱導(dǎo)檢測器。儀器配有自動清掃裝置,采用標準參考物質(zhì)校準。
原子吸收光譜儀連續(xù)光源原子吸收可以不用更換元素?zé)?,利用一個高能量氙燈,即可測量元素周期表中67個金屬元素,實現(xiàn)了不需銳線光源的真正多元素原子吸收分析。
電感耦合等離子體質(zhì)譜儀(ICP-MS)用于微量和痕量金屬和部分非金屬元素的定量分析,可檢測70多種元素。
梅特勒-托利多T70全自動電位滴定儀操作簡單、分析高效和安全可靠,可同時連接多個滴定管和傳感器,進行自動多步滴定、返滴定等各種復(fù)雜滴定測試。T70除了具有一鍵滴定、硬件即插即用、方法庫等特點外,同時還有很多優(yōu)點:方法中可以設(shè)置不同樣品數(shù)量的內(nèi)部循環(huán)功能。選用不同電極還可進行各種類型的滴定,例如:酸堿滴定、絡(luò)合滴定、非水滴定、氧化還原滴定,甚至卡爾費休水分測定、氣體水分測定等。
Bruker M4 Tornado 微區(qū)X射線熒光光譜儀可用于對大塊、不均勻、不規(guī)則,甚至小件的樣品和包裹物進行高靈敏度、非破壞性的元素分析 (Na11-U92) ,是研究樣品成分分析、成分分布規(guī)律的新利器,可以給學(xué)者從宏觀、微觀、微宏觀結(jié)合等多個角度提供新的研究思路。
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