本發(fā)明公開了一種陣列基板和顯示裝置，該陣列基板中，包括形成在源漏電極層的對位標記，并在像素電極和鈍化層中對應(yīng)于對位標記的區(qū)域形成檢測孔，這樣可以通過將電子束照射到檢測孔中實現(xiàn)對對位標記進行正常檢測。并且，由于在對位標記和公共電極線之間僅包含柵極絕緣層和刻蝕保護層，這樣就僅需要一次干法刻蝕就能實現(xiàn)對位標記與公共電極的連接，從而解決了多次干法刻蝕制作同一過孔導(dǎo)致的過孔側(cè)壁坡度不一致問題，減小像素電極在過孔側(cè)壁發(fā)生斷裂引起檢測圖形失效的可能性。