本發(fā)明實施例公開了一種位線的篩選方法、裝置、存儲設(shè)備和存儲介質(zhì)。所述方法包括:對相互獨立的每一個待檢測區(qū)域中所有位線以間隔施加相同電壓的方式施加設(shè)定時間的第一檢測電壓和第二檢測電壓,對每一個待檢測區(qū)域中的所有字線施加設(shè)定時間的截止電壓;對每一個待檢測區(qū)域進行檢驗編程操作,使每一個待檢測區(qū)域中任意相鄰的兩個存儲單元存儲的數(shù)據(jù)均不同;校驗每一個待檢測區(qū)域中所有存儲單元的存儲數(shù)據(jù)是否與檢驗編程操作匹配;將存儲數(shù)據(jù)與檢驗編程操作不匹配的存儲單元對應(yīng)的位線確定為失效位線。本發(fā)明實施例的技術(shù)方案解決了現(xiàn)有的失效位線檢測方法難以檢測出潛在失效位線的技術(shù)缺陷,實現(xiàn)了一次性快速、準(zhǔn)確地檢測出全部失效位線。
聲明:
“位線的篩選方法、裝置、存儲設(shè)備和存儲介質(zhì)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)