本發(fā)明公開了一種嵌入式EEPROM的“讀”測(cè)試基準(zhǔn)建立方法，基于EEPROM標(biāo)準(zhǔn)Cell的讀電流通過比例分割產(chǎn)生一組讀基準(zhǔn)電流，掃描比例分割參數(shù)的同時(shí)測(cè)試各基準(zhǔn)電流配置下的EEPROM失效比例，間接測(cè)得EEPROM的讀窗口；基于已得的讀窗口數(shù)據(jù)，結(jié)合產(chǎn)品工藝可控參數(shù)及EEPROM的可靠性考核結(jié)果，得出最終的EEPROM“讀”測(cè)試基準(zhǔn)；以此保證成品品質(zhì)及圓片制造的工藝冗余度，同時(shí)降低產(chǎn)品的生產(chǎn)成本。