一種PCB互聯(lián)可靠性測(cè)試方法和裝置,所述測(cè)試方法包括以下步驟,設(shè)定高溫測(cè)試溫度,加熱時(shí)間等測(cè)試參數(shù),在樣品的加熱端互連網(wǎng)絡(luò)中通入測(cè)試電流,在設(shè)定的加熱時(shí)間內(nèi),樣品達(dá)到設(shè)定的高溫測(cè)試溫度,停止測(cè)試電流,對(duì)樣品進(jìn)行冷卻至室溫,對(duì)樣品重復(fù)進(jìn)行加熱和冷卻,直到設(shè)定的測(cè)試循環(huán)數(shù)完成,或者樣品電阻變化超過(guò)設(shè)定的失效標(biāo)準(zhǔn)。所述裝置其包括:機(jī)柜,樣品安裝單元,冷卻單元,加熱單元,電源單元,測(cè)量單元,控制單元,顯示和輸入單元以及各單元之間的連接電纜。
聲明:
“PCB互聯(lián)可靠性測(cè)試方法和裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)