本申請公開了一種閃存的有效性預(yù)測方法、裝置及存儲介質(zhì)，其中方法包括：基于預(yù)定的擦除次數(shù)間隔，利用若干檢測模型對待檢測的閃存芯片進行若干次可靠性等級檢測，獲得若干初始檢測結(jié)果；基于各所述初始檢測結(jié)果確定所述閃存芯片為有效狀態(tài)或確定所述閃存芯片為非有效狀態(tài)。本申請通過以預(yù)定擦除次數(shù)間隔執(zhí)行預(yù)測，并且通過采用多模型、多次預(yù)測的方式來獲得若干初始檢測結(jié)果，然后綜合各初始檢測結(jié)果來最終確定閃存芯片為有效狀態(tài)或者為非有效狀態(tài)，提高預(yù)測的準(zhǔn)確度，有效降低因為閃存芯片數(shù)據(jù)失效導(dǎo)致的數(shù)據(jù)安全隱患。