本發(fā)明所屬的測試裝置具備:圖樣產(chǎn)生器,其產(chǎn)生一種供給至多個被測試存儲器中的位址信號和數(shù)據(jù)信號以及產(chǎn)生一種期待值信號;多個邏輯比較器,其在多個被測試存儲器所輸出的輸出信號和該期待值信號不一致時產(chǎn)生一種失效數(shù)據(jù);多個失效存儲器,其儲存著多個邏輯比較器所產(chǎn)生的失效數(shù)據(jù);多個存儲器控制器,其依據(jù)多個失效存儲器所儲存的失效數(shù)據(jù)以產(chǎn)生被測試存儲器的不良位址顯示用的不良位址資訊;多個通用緩沖存儲器,其儲存著多個存儲器控制器所產(chǎn)生的不良位址資訊;以及多個不良資訊寫入部,其將不良資訊同時寫入至多個被測試裝置的多個通用緩沖存儲器中所儲存的不良位址資訊所示的不良位址中。