本發(fā)明公開了一種CT探測器核心部件的高加速壽命試驗方法。本發(fā)明將CT探測器核心部件放入高加速壽命試驗箱中，控制高加速壽命試驗箱同時進行溫度、振動循環(huán)周期性試驗。并通過高低溫循環(huán)變化，逐步增加溫度應(yīng)力系數(shù)。在每個高溫點向低溫點變化的同時，振動應(yīng)力步進增加。在各相應(yīng)時間點進行失效判斷和失效統(tǒng)計，直到試驗樣品全部失效為止，最后進行失效分析，鑒定探測器核心部件的平均無故障工作時間。本發(fā)明避免了正常壽命試驗方法樣機數(shù)大、耗時久的缺點，相比普通的高低溫循環(huán)試驗、振動步進試驗大大縮短了試驗時間。在短期內(nèi)快速激發(fā)核心部件的潛在故障，為產(chǎn)品的整體設(shè)計提供全過程技術(shù)支持，有效提高產(chǎn)品的可靠性水平。