本發(fā)明公開了基于EMMI的化合物半導(dǎo)體器件直流測試系統(tǒng),包括測試夾具、源極直流電源、柵極直流電源、漏極直流電源和EMMI平臺;化合物半導(dǎo)體器件裝配在測試夾具中,EMMI平臺采集化合物半導(dǎo)體器件在不加電情況下的背景噪聲信號;然后采用源極、柵極和漏極直流電源通過測試夾具使得化合物半導(dǎo)體器件處于不同工作狀態(tài),同時EMMI平臺采集化合物半導(dǎo)體器件的光信號,并扣除背景噪聲信號,生成化合物半導(dǎo)體器件在工作狀態(tài)下的EMMI分析圖,并分析化合物半導(dǎo)體器件是否失效,根據(jù)EMMI分析圖對失效的化合物半導(dǎo)體器件失效部位定位。本發(fā)明創(chuàng)新性的將器件的直流工作狀態(tài)與電致發(fā)光原理相結(jié)合,實現(xiàn)化合物半導(dǎo)體器件的測試。
聲明:
“基于EMMI的化合物半導(dǎo)體器件直流測試系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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