一種閃存類電子產(chǎn)品的壽命預(yù)測(cè)方法包括如下步驟:(1)對(duì)產(chǎn)品失效模式等失效信息和產(chǎn)品結(jié)構(gòu)、工藝等器件信息進(jìn)行分析,確定潛在失效機(jī)理及其失效物理模型;(2)確定影響失效機(jī)理的環(huán)境應(yīng)力;(3)確定失效物理模型中的相關(guān)參數(shù);(4)對(duì)產(chǎn)品實(shí)際經(jīng)歷的環(huán)境應(yīng)力進(jìn)行監(jiān)測(cè)和記錄;(5)將環(huán)境應(yīng)力變化區(qū)間劃分成合適的小區(qū)間,并統(tǒng)計(jì)各個(gè)小區(qū)間內(nèi)的產(chǎn)品經(jīng)歷時(shí)間;(6)利用失效物理模型分別計(jì)算不同應(yīng)力水平下的預(yù)計(jì)失效前時(shí)間;(7)分別計(jì)算產(chǎn)品在每個(gè)應(yīng)力水平下由于不同失效機(jī)理造成的壽命損傷;(8)分別計(jì)算產(chǎn)品由于不同失效機(jī)理造成的壽命累積損傷;(9)預(yù)測(cè)不同失效機(jī)理下的產(chǎn)品剩余壽命;(10)預(yù)測(cè)整個(gè)產(chǎn)品的剩余壽命。