本發(fā)明公開(kāi)了一種檢測(cè)柔性電子器件導(dǎo)電性能的裝置，該裝置包括基座、位移臺(tái)、電動(dòng)機(jī)、探針、彎曲機(jī)構(gòu)、顯微鏡、顯示器、源表和控制器，所述的位移臺(tái)包括第一位移臺(tái)和第二位移臺(tái)，分別設(shè)于所述基座上的左右兩端，所述彎曲機(jī)構(gòu)的左右兩端分別與兩個(gè)位移臺(tái)相接，且所述的探針設(shè)于每個(gè)位移臺(tái)上；所述的電動(dòng)機(jī)包括第一電動(dòng)機(jī)和第二電動(dòng)機(jī)，設(shè)于所述基座的左右兩側(cè)，且分別與所述第一位移臺(tái)和第二位移臺(tái)相接；所述基座的中部后側(cè)設(shè)有顯微鏡安裝座，所述的顯微鏡設(shè)于所述的顯微鏡安裝座上；所述的探針與所述源表相接，所述源表、顯微鏡、電動(dòng)機(jī)和顯示器均與所述控制器相接。本發(fā)明可實(shí)時(shí)獲取電遷移失效時(shí)的判定參數(shù)，最終有效實(shí)現(xiàn)電遷移失效的預(yù)判和控制。