本發(fā)明實(shí)施例公開了一種存儲(chǔ)器芯片的檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)，該檢測(cè)方法包括：當(dāng)存儲(chǔ)器芯片上電初始化后，根據(jù)接收的使能信號(hào)控制存儲(chǔ)器芯片自動(dòng)進(jìn)行早期失效測(cè)試流程；如果檢測(cè)到存儲(chǔ)器芯片自動(dòng)進(jìn)行的早期失效測(cè)試流程的次數(shù)達(dá)到預(yù)設(shè)測(cè)試次數(shù)，則判定存儲(chǔ)器芯片為良品。本發(fā)明中存儲(chǔ)器芯片與檢測(cè)裝置一一對(duì)應(yīng)設(shè)置，量產(chǎn)的存儲(chǔ)器芯片可通過各自對(duì)應(yīng)的檢測(cè)裝置自行進(jìn)行失效檢測(cè)，因此檢測(cè)并行度高、適用于大規(guī)模量產(chǎn)的存儲(chǔ)器芯片的檢測(cè)，存儲(chǔ)器芯片在使能信號(hào)的控制下自動(dòng)進(jìn)行早期失效測(cè)試流程且不需要指令控制，因此檢測(cè)耗時(shí)短，以及存儲(chǔ)器芯片僅需要探針卡供電且不需要探針卡的指令控制信號(hào)，因此節(jié)省了探針卡的成本。