本發(fā)明實(shí)施例公開了一種存儲器芯片的檢測方法、檢測裝置和檢測系統(tǒng)，該檢測方法包括：當(dāng)存儲器芯片上電初始化后，根據(jù)接收的使能信號控制存儲器芯片自動進(jìn)行早期失效測試流程；如果檢測到存儲器芯片自動進(jìn)行的早期失效測試流程的次數(shù)達(dá)到預(yù)設(shè)測試次數(shù)，則判定存儲器芯片為良品。本發(fā)明中存儲器芯片與檢測裝置一一對應(yīng)設(shè)置，量產(chǎn)的存儲器芯片可通過各自對應(yīng)的檢測裝置自行進(jìn)行失效檢測，因此檢測并行度高、適用于大規(guī)模量產(chǎn)的存儲器芯片的檢測，存儲器芯片在使能信號的控制下自動進(jìn)行早期失效測試流程且不需要指令控制，因此檢測耗時短，以及存儲器芯片僅需要探針卡供電且不需要探針卡的指令控制信號，因此節(jié)省了探針卡的成本。