本發(fā)明公開(kāi)了一種芯片燒錄數(shù)據(jù)的采集分析方法和系統(tǒng)，用于芯片燒錄機(jī)，所述方法包括如下步驟：對(duì)芯片進(jìn)行燒錄；記錄每顆芯片的燒錄信息和測(cè)試信息；將所述燒錄信息和測(cè)試信息通過(guò)互聯(lián)網(wǎng)發(fā)送到服務(wù)器。所述每顆芯片的燒錄信息，包括以下信息：芯片的識(shí)別號(hào)、型號(hào)、燒錄參數(shù)、燒錄成功與否、燒錄失敗標(biāo)志信息。在記錄每顆芯片的燒錄信息之前，每一顆芯片都首先被燒錄機(jī)識(shí)別出來(lái)。所述每顆芯片的燒錄信息和測(cè)試信息存儲(chǔ)在燒錄機(jī)的存儲(chǔ)器中。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明具有如下有益效果：該方法通過(guò)對(duì)燒錄階段的數(shù)據(jù)收集，可以使得芯片廠家掌握第一手的燒錄階段的生產(chǎn)資料，并可追溯該芯片的整個(gè)生產(chǎn)流程，通過(guò)數(shù)據(jù)分析的方法，找出燒錄失效的原因，進(jìn)行改善。