本發(fā)明公開了一種基于偏最小二乘回歸的紅外無損檢測電磁激勵數(shù)學(xué)模型建模方法。利用平板型電磁線圈對金屬材料表面進行電磁激勵，采用紅外熱像儀獲取激勵前后金屬材料表面平均溫度差信息，并將該溫度差作為表征電磁激勵效果的指標(biāo)。選擇影響電磁激勵效果的參數(shù)，通過改變參數(shù)的值改變電磁激勵效果。將激勵前后材料表面平均溫度差作為偏最小二乘回歸建模方法的因變量，將影響電磁激勵效果的參數(shù)作為自變量，利用偏最小二乘回歸算法建立電磁激勵數(shù)學(xué)模型表征電磁激勵效果指標(biāo)與影響電磁激勵效果各參數(shù)之間的關(guān)系。本發(fā)明對金屬電磁激勵作用效果的研究及金屬缺陷的紅外無損檢測激勵源的研究有指導(dǎo)作用。