本發(fā)明公開了一種采用導(dǎo)電納米線的電學(xué)和導(dǎo)電原子力顯微鏡探針及其制備方法，解決了目前電學(xué)和導(dǎo)電原子力顯微鏡探針的瓶頸問(wèn)題，大大提高了原子力顯微鏡探針的壽命和分辨率。導(dǎo)電納米線探針可以采用直接粘接法和化學(xué)氣相沉積生長(zhǎng)法制備。充分利用了導(dǎo)電一維納米材料探針的超高分辨率和超長(zhǎng)使用壽命，解決了電學(xué)和導(dǎo)電原子力顯微鏡探針測(cè)試長(zhǎng)期以來(lái)的壽命短，易磨損等問(wèn)題，提高了測(cè)試的一致性，滿足了科研、生產(chǎn)和教學(xué)等不同應(yīng)用領(lǐng)域的需求。