用于監(jiān)測(cè)至少一個(gè)物理或者化學(xué)過程變量的設(shè)備,該設(shè)備包括至少一個(gè)測(cè)量分支(2)和補(bǔ)償分支(3),補(bǔ)償分支(3)與測(cè)量分支并聯(lián)連接以補(bǔ)償至少一個(gè)環(huán)境參數(shù)對(duì)過程變量和/或過程變量的測(cè)量的影響,其中,測(cè)量分支(2)包括至少一個(gè)主傳感器單元(4)和主電子單元(5)以進(jìn)行信號(hào)記錄、信號(hào)評(píng)估和/或信號(hào)饋送,補(bǔ)償分支(3)至少包括輔助傳感器單元(6)和輔助電子單元(7),其中,輔助傳感器單元(6)被實(shí)施為記錄作為至少一個(gè)環(huán)境參數(shù)特性的物理或化學(xué)變量,其中,輔助電子單元(7)被實(shí)施為從測(cè)量分支(2)吸取所需能量,并且通過特性物理或化學(xué)變量產(chǎn)生補(bǔ)償信號(hào),補(bǔ)償信號(hào)被發(fā)送至測(cè)量分支(2)的主電子單元(5)。
聲明:
“具有用于消除環(huán)境影響的補(bǔ)償電路的現(xiàn)場(chǎng)裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)