本發(fā)明提供了一種通過簡單的光化學(xué)摻雜電子手段,實(shí)現(xiàn)常規(guī)半導(dǎo)體量子點(diǎn)(CdSe QD)中熱載流子壽命顯著延長的獨(dú)特方法?;贑dSe QD材料體系,改變量子點(diǎn)導(dǎo)帶中摻雜電子的程度,利用超快瞬態(tài)吸收光譜儀,系統(tǒng)研究了不同電子光摻雜程度對(duì)CdSe QD中熱電子馳豫時(shí)間的影響,通過分析對(duì)比獲取的動(dòng)力學(xué)譜圖和相關(guān)動(dòng)力學(xué)參數(shù),發(fā)現(xiàn)QD中電子摻雜程度較低時(shí)(<25%),其熱電子壽命達(dá)到10ps左右;若QD中實(shí)現(xiàn)電子重度摻雜,即摻雜程度在60%左右,此時(shí)熱電子馳豫壽命可被延長至300ps量級(jí)。為今后基于QD的熱載流子高效提取材料體系的調(diào)控、構(gòu)建和設(shè)計(jì)提供了一定的理論指導(dǎo)。
聲明:
“電子摻雜實(shí)現(xiàn)半導(dǎo)體熱電子壽命延長的方法及體系與應(yīng)用” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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