本發(fā)明屬于葉片加工技術領域,具體涉及一種磨粒流加工控制葉片氣膜孔重熔層去除量的方法。本發(fā)明的步驟是:解剖葉片氣膜孔并進行金相檢測,得到氣膜孔重熔層厚度最大值的平均數(shù)δ,選取五組直徑為D的葉片氣膜孔,采用磨粒流設備對每組葉片氣膜孔進行磨削加工,控制五組葉片氣膜孔孔徑為D+δ、D+1.5δ、D+2δ、D+2.5δ和D+3δ,對加工后的葉片氣膜孔縱向解剖并進行金相檢測,確定磨粒流加工控制加工后的葉片氣膜孔為D+2δ時,重熔層的去除量最佳、效率最好,照此原則對批量加工的葉片氣膜孔加工。本發(fā)明采用磨粒流機械方法去除重熔層,沒有電化或化學方法去除重熔層帶來的晶界腐蝕隱患,方法簡單,無需增加清除和檢測腐蝕的工序,保證了葉片的使用可靠性。
聲明:
“磨粒流加工控制葉片氣膜孔重熔層去除量的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
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