本發(fā)明公開(kāi)一種光學(xué)表征含動(dòng)態(tài)鍵高分子材料松弛過(guò)程的裝置及方法，該裝置包括依次同軸設(shè)置的平面平行光源、起偏鏡、對(duì)面透明環(huán)境箱、檢偏鏡和記錄裝置，設(shè)置在對(duì)面透明環(huán)境箱上的加載裝置；方法為：1)將含有動(dòng)態(tài)化學(xué)鍵的高分子材料試樣置于線偏振平面平行光環(huán)境下；2)在線偏振平面平行光環(huán)境下，標(biāo)定試樣的各項(xiàng)參數(shù)；3)通過(guò)外力使試樣發(fā)生變形，并保持其形變。4)激活試樣中的動(dòng)態(tài)鍵交換反應(yīng)；5)記錄經(jīng)由檢偏鏡疊加合成后出現(xiàn)的干涉條紋的光強(qiáng)信息。6)依據(jù)記錄到的干涉條紋的光強(qiáng)信息，計(jì)算當(dāng)前試樣中的應(yīng)力松弛狀態(tài)。本發(fā)明通過(guò)非接觸式的方法測(cè)量含動(dòng)態(tài)化學(xué)鍵材料內(nèi)部的應(yīng)力狀態(tài)，確定其重塑過(guò)程中的應(yīng)力水平，為其熱處理時(shí)間與溫度提供設(shè)計(jì)依據(jù)。