本發(fā)明公開了一種基于側(cè)拋式全光纖F?P結(jié)構(gòu)的壓力檢測方法，包括：利用化學腐蝕法腐蝕單模光纖一端，得到F?P腔；使用側(cè)面拋磨系統(tǒng)在F?P腔兩側(cè)進行拋磨，得到側(cè)拋式全光纖F?P結(jié)構(gòu)；將側(cè)拋式全光纖F?P結(jié)構(gòu)與環(huán)形器、寬帶光源、光譜分析儀組成壓力測試系統(tǒng)；將側(cè)拋式全光纖F?P結(jié)構(gòu)拋磨一端置于待測環(huán)境中，F(xiàn)?P腔隨外界壓力變化產(chǎn)生軸向形變，根據(jù)壓力、腔長、干涉光譜的變化關(guān)系，分析光譜分析儀采集的干涉光譜即可得到壓力的大小。本發(fā)明壓力檢測方法采用化學腐蝕法制備的F?P腔光滑且對比度、靈敏度高，并通過對F?P腔側(cè)面進行拋磨，使得腔體側(cè)面變薄，對于氣壓更加敏感，能夠用于臨床醫(yī)學檢測氣壓，尤其是監(jiān)測心臟穩(wěn)定器對心臟吸附得壓力。