本發(fā)明公開的是一種表征纖維沿徑向不同深度化學結構的方法。其內容包括1)首先對纖維表面特定微區(qū)進行X射線光電子能譜測試；2)調整氬離子槍的濺射角度與離子源能量對測試區(qū)域進行原位濺射剝離處理；3)重復上述步驟。通過X射線光電子能譜測試與原位氬離子濺射交替進行，實現(xiàn)纖維沿徑向不同深度化學結構的分析。本發(fā)明的核心是采用X射線光電子能譜?氬離子槍濺射聯(lián)用技術，通過X射線光電子能譜測試與原位的氬離子濺射交替進行，獲得纖維特定微區(qū)沿徑向不同深度化學結構信息，即深度剖析。