本發(fā)明的實施例公開一種檢測電子設(shè)備卡頓的方法、裝置及電子設(shè)備,涉及電子設(shè)備性能檢測技術(shù),無需用戶退出正在使用的軟件,再進行卡頓的檢測。所述檢測電子設(shè)備卡頓的方法包括:在監(jiān)測到應(yīng)用程序啟動時,調(diào)用預(yù)先安裝在所述應(yīng)用程序的界面中的清理應(yīng)用程序檢測并得到電子設(shè)備運行參數(shù);查詢預(yù)先存儲的電子設(shè)備參數(shù)與電子設(shè)備優(yōu)化策略的映射關(guān)系集,獲取所述電子設(shè)備運行參數(shù)映射的電子設(shè)備優(yōu)化策略;按照所述電子設(shè)備運行參數(shù)映射的電子設(shè)備優(yōu)化策略對所述電子設(shè)備進行優(yōu)化。本發(fā)明適用于對電子設(shè)備運行進行優(yōu)化。
聲明:
“一種檢測電子設(shè)備卡頓的方法、裝置及電子設(shè)備” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)