本發(fā)明提供了一種芯片檢測標記計數(shù)方法及其設(shè)備，包括以下步驟：開啟電機，芯片前進，芯片依次經(jīng)過到位檢測工位、次品芯片檢測工位、芯片讀寫性能檢測工位、標記工位。在此過程中，次品芯片檢測工位對芯片的孔進行檢測，芯片讀寫性能檢測工位對芯片進行讀寫性能檢測，標記工位按照前述檢測反饋的信息對芯片進行新的標記。本發(fā)明提供的方案具有較高的自動化程度，節(jié)省空間，便于操作，能夠進行個性化標記，可廣泛地在IC卡生產(chǎn)企業(yè)中應(yīng)用。