本發(fā)明公開了一種判定GaAs基太赫茲混頻肖特基二極管結面積的方法,所述方法包括:將被測太赫茲肖特基二極管固定在測試臺面,利用直流測試用探針扎在太赫茲肖特基二極管的兩個金屬焊盤上;使用半導體測試儀測試太赫茲肖特基二極管的電流和電壓;基于獲得的電流和電壓,利用公式(7)計算出肖特基二極管結面積,實現(xiàn)了快速鑒別管芯,對器件無損傷,成本較低的技術效果。
聲明:
“判定GaAs基太赫茲混頻肖特基二極管結面積的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)