本發(fā)明屬于無損檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域,提供一種超聲對(duì)比試塊嵌入件放置方法,能解決實(shí)際鋪層時(shí)薄膜極易發(fā)生錯(cuò)位的問題。本發(fā)明的技術(shù)方案包括:將兩個(gè)人工缺陷圓片并排粘貼在膠帶上;沿兩個(gè)人工缺陷圓片的公切線方向?qū)⒛z帶對(duì)折,使兩個(gè)人工缺陷圓片重疊在一起;從膠帶上剪下人工缺陷圓片;將剪下的人工缺陷圓片放入鋪層中。具體的,所述人工缺陷圓片為聚四氟乙烯薄膜圓片。
聲明:
“超聲對(duì)比試塊嵌入件放置方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)