本發(fā)明公開了一種基于緊湊型D?D中子源的熱中子透射成像方法及成像裝置,采用緊湊型D?D中子源提供外源中子,經(jīng)中子慢化體將型D?D中子源輸出的2.45MeV的D?D快中子慢化為熱中子或超熱中子,慢化后進(jìn)入D?D中子源上方中子慢化體中豎直設(shè)置的上大下小的錐形中子準(zhǔn)直孔道內(nèi),經(jīng)準(zhǔn)直的熱中子束透射被檢測物體,透射穿過物體的熱中子通過錐形中子準(zhǔn)直孔道上端安裝的熱中子像探測器系統(tǒng)探測,經(jīng)熱中子像探測器系統(tǒng)轉(zhuǎn)變?yōu)閿?shù)字化的透射圖像,得到熱中子透射強(qiáng)度二維空間分布,進(jìn)而獲得被檢測物體的內(nèi)部結(jié)構(gòu)及不同材料的空間分布情況。本發(fā)明具有可移動(dòng)式、快速、準(zhǔn)確、無損、良好空間分辨性的特點(diǎn),可用于物體的無損檢測。
聲明:
“基于緊湊型D-D中子源的熱中子透射成像方法及成像裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)