本發(fā)明公開了一種測量裝置，涉及測量設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域。該測量裝置包括機(jī)架、承載機(jī)構(gòu)、掃描機(jī)構(gòu)、第一測量機(jī)構(gòu)和第二測量機(jī)構(gòu)。承載機(jī)構(gòu)設(shè)在機(jī)架上，承載機(jī)構(gòu)用于承載試樣。掃描機(jī)構(gòu)可活動地設(shè)在機(jī)架上，掃描機(jī)構(gòu)與試樣之間具有間隙，掃描機(jī)構(gòu)用于測量試樣的截面尺寸。第一測量機(jī)構(gòu)可活動地設(shè)在機(jī)架上，第一測量機(jī)構(gòu)與試樣之間具有間隙，第一測量機(jī)構(gòu)用于測量試樣各區(qū)域的厚度參數(shù)。第二測量機(jī)構(gòu)可活動地設(shè)在機(jī)架上。該測量裝置能夠降低試樣的測量難度，提高試樣的測量精度和測量效率，特別適合軟體材料、變截面產(chǎn)品的非接觸式無損三維尺寸的快速測量、動態(tài)彈性模量表征以及后期全尺寸范圍的自定義形變計算。