本發(fā)明涉及指紋識(shí)別領(lǐng)域,公開(kāi)一種用于測(cè)試指紋識(shí)別模組的裝置及使用方法,該用于測(cè)試指紋識(shí)別模組的裝置,包括殼體;第一蓋板,所述第一蓋板與所述殼體配合形成有用于放置指紋識(shí)別模組的容納空間,所述第一蓋板具有鏤空區(qū)域,所述鏤空區(qū)域用于暴露出所述指紋識(shí)別模組的識(shí)別區(qū);位于所述容納空間內(nèi)的主板,當(dāng)所述指紋識(shí)別模組位于所述容納空間時(shí),所述主板位于所述指紋識(shí)別模組的下方,所述主板用于與所述指紋識(shí)別模組連接。通過(guò)用于測(cè)試指紋識(shí)別模組的裝置可以完成對(duì)指紋識(shí)別模組的多種性能測(cè)試,從而提高測(cè)試效率,保證指紋識(shí)別模組的性能。
聲明:
“一種用于測(cè)試指紋識(shí)別模組的裝置及使用方法” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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