本發(fā)明提供影響待勘測區(qū)塊評價(jià)的主要地質(zhì)參數(shù)的選取方法及設(shè)備,該方法包括:獲取待勘測區(qū)塊的所有地質(zhì)參數(shù),并按照預(yù)設(shè)規(guī)則對所有地質(zhì)參數(shù)進(jìn)行分類,得到多組不同類型的地質(zhì)變量;獲取待勘測區(qū)塊的目標(biāo)地質(zhì)變量中的每個(gè)地質(zhì)參數(shù)的多組樣本數(shù)據(jù),并對所有樣本數(shù)據(jù)進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化處理,得到目標(biāo)地質(zhì)變量中每個(gè)地質(zhì)參數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù);其中,目標(biāo)地質(zhì)變量為多組不同類型的地質(zhì)變量中的任意一組;對所有目標(biāo)地質(zhì)變量中的所有地質(zhì)參數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)進(jìn)行主成分分析,基于分析結(jié)果,選取所有地質(zhì)參數(shù)中影響待勘測區(qū)塊評價(jià)的主要地質(zhì)參數(shù)。本發(fā)明可以篩選出該區(qū)塊頁巖氣資源評價(jià)的主要地質(zhì)參數(shù)的問題。
聲明:
“影響待勘測區(qū)塊評價(jià)的主要地質(zhì)參數(shù)的選取方法及設(shè)備” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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