本實(shí)用新型公開(kāi)了一種利用方位電阻率隨鉆探測(cè)地層界面的裝置,該裝置無(wú)磁鉆鋌,其作為整個(gè)裝置的載體,設(shè)有一補(bǔ)償電阻率測(cè)點(diǎn);電路單元,其安裝在無(wú)磁鉆鋌的內(nèi)部;若干個(gè)天線及與每個(gè)天線相對(duì)應(yīng)的天線諧調(diào)單元分別布置于無(wú)磁鉆鋌的外圓面,且與電路單元相連。本實(shí)用新型包含常規(guī)的電阻率測(cè)量和方位電阻率測(cè)量,利用方位電阻率測(cè)量值來(lái)分析計(jì)算該裝置距離地層界面的距離,為鉆井提供寶貴的實(shí)時(shí)地質(zhì)數(shù)據(jù),達(dá)到優(yōu)化鉆井質(zhì)量的目的。
聲明:
“利用方位電阻率隨鉆探測(cè)地層界面的裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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