本發(fā)明公開了一種用于X射線閃爍體新型材料的成像特性定量檢測與綜合評價方法,具體針對新型
鈣鈦礦基納米晶體材料,利用高亮度且能量連續(xù)可調(diào)的同步輻射X射線成像裝置,設(shè)計出一套實用、客觀、全面、準(zhǔn)確的檢測光路,以及數(shù)據(jù)采集與處理、定量計算方法,有效實現(xiàn)了
新材料用于X射線成像閃爍體綜合客觀評價目標(biāo)。該檢測技術(shù)包括:檢測光路設(shè)計與搭建;新材料閃爍體的制備與安裝;高分辨數(shù)據(jù)采集與處理;新材料發(fā)光效率計算方法;采用圖像MTF函數(shù)與襯度噪聲比綜合評價成像分辨率和靈敏度等技術(shù)步驟。該新型檢測技術(shù)具有普適性,可用于不同能量X射線發(fā)光
功能材料特性的綜合定量檢測與評價。
聲明:
“新型X射線成像閃爍體材料的定量檢測與綜合評價方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)