一種調(diào)節(jié)二維金屬納米粒子陣列的間距、密度和光學(xué)性質(zhì)的方法,屬于
功能材料技術(shù)領(lǐng)域。通過氣體等離子體對電中性的聚合物薄膜基底表面進(jìn)行處理,使其表面產(chǎn)生帶電荷的化學(xué)基團(tuán),在不同溫度下熱退火處理,然后利用層層自組裝技術(shù),使其表面吸附攜帶有正電荷的聚電解質(zhì),此時基底上便具有不同密度的正電荷,最后將基底浸泡在預(yù)先制備得到的帶有相反電荷的金屬納米粒子溶液中足夠長時間,取出沖洗、吹干后便可得到不同粒子間距、密度和光學(xué)性質(zhì)的二維金屬納米粒子陣列。此外,將具有溫度梯度的熱源應(yīng)用在熱退火這一步中,最終可以得到具有大面積梯度的樣品,其納米粒子的間距、密度,以及光譜中的吸收峰的強(qiáng)度和峰位在整個樣品上呈現(xiàn)梯度變化。
聲明:
“調(diào)節(jié)二維金屬納米粒子陣列的間距、密度和光學(xué)性質(zhì)的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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