本發(fā)明提供了一種環(huán)境地質(zhì)取樣裝置,屬于環(huán)境監(jiān)測技術(shù)領(lǐng)域,包括柱筒,所述柱筒內(nèi)部設(shè)置有取樣組件以及用于帶動(dòng)所述取樣組件上下移動(dòng)的第一驅(qū)動(dòng)組件;所述取樣組件包括相對設(shè)置的第一弧形板與第二弧形板,所述第一弧形板與第二弧形板可圍成筒型結(jié)構(gòu),第一弧形板與第二弧形板相對的一側(cè)均開設(shè)有取樣缺口。本發(fā)明實(shí)施例中,通過第一驅(qū)動(dòng)組件帶動(dòng)取樣組件上下移動(dòng),使得取樣組件插入至土層內(nèi)部后將土壤帶出,經(jīng)取樣分析后通過第二驅(qū)動(dòng)組件驅(qū)使第一弧形板與第二弧形板相互遠(yuǎn)離,使得位于第一弧形板與第二弧形板內(nèi)部的土壤自行排出,相較于現(xiàn)有技術(shù),具有結(jié)構(gòu)簡單、使用方便以及取樣效果好的優(yōu)點(diǎn)。
聲明:
“環(huán)境地質(zhì)取樣裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)