本發(fā)明提供了一種非揮發(fā)性存儲器的自測試方法和裝置,非揮發(fā)性存儲器包括自測試控制器,非揮發(fā)性存儲器與測試設(shè)備相連,方法包括:通過非揮發(fā)性存儲器接收測試設(shè)備發(fā)送的啟動自測試指令;啟動自測試控制器,確定最大測試次數(shù)和非揮發(fā)性存儲器的各待測試項(xiàng)目;通過自測試控制器根據(jù)各待測試項(xiàng)目對非揮發(fā)性存儲器進(jìn)行測試,直至對各待測試項(xiàng)目的測試次數(shù)等于最大測試次數(shù),或直至任一待測試項(xiàng)目的測試結(jié)果為非揮發(fā)性存儲器失效;若任一待測試項(xiàng)目的測試結(jié)果為非揮發(fā)性存儲器失效,則通過自測試控制器記錄對應(yīng)的項(xiàng)目失效信息至非揮發(fā)性存儲器的第一預(yù)設(shè)存儲空間。本發(fā)明使得老化測試簡單方便,大幅降低了老化測試對測試設(shè)備的要求,測試成本更低。
聲明:
“非揮發(fā)性存儲器的自測試方法和裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)