一種基于ATE測試平臺的Flash型FPGA測試方法,包括:Flash型FPGA器件片上資源劃分;FPGA器件片上資源配置方案設計;生成配置文件及測試向量文件;ATE測試;實現(xiàn)對FPGA器件功能的測試,保證FPGA器件使用前功能性能滿足相關指標要求,避免由于FPGA器件本身失效導致的電路功能性能不滿足要求。
聲明:
“基于ATE測試平臺的Flash型FPGA測試方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)