本發(fā)明公開了一種發(fā)動機(jī)裝配檢測方法、系統(tǒng)、存儲介質(zhì)以及電子設(shè)備,涉及發(fā)動機(jī)技術(shù)領(lǐng)域,該方法包括:獲取發(fā)動機(jī)裝配檢測過程中采集到的裝配檢測數(shù)據(jù);將所述裝配檢測數(shù)據(jù)作為訓(xùn)練好的失效檢測模型的輸入,根據(jù)所述失效檢測模型的輸出結(jié)果確定所述發(fā)動機(jī)的裝配是否合格。本發(fā)明的有益效果是:通過訓(xùn)練好的失效檢測模型,可以引入多個維度的檢測數(shù)據(jù)進(jìn)行分析,使得發(fā)動機(jī)裝配檢測的檢測結(jié)果更佳。
聲明:
“發(fā)動機(jī)裝配檢測方法、系統(tǒng)、存儲介質(zhì)以及電子設(shè)備” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)