本發(fā)明提供一種玉米穗水分分布的電阻抗成像方法及系統(tǒng)。該方法包括:將環(huán)狀多電極陣列套設(shè)在帶苞葉的玉米穗上,其中環(huán)狀多電極陣列中的電極環(huán)形支架具有縱向排布在玉米穗上的一個(gè)或多個(gè)環(huán);測量環(huán)狀多電極陣列中的電極與玉米穗的接觸阻抗;基于預(yù)設(shè)的接觸阻抗閾值,選擇對激勵(lì)電極施加電流激勵(lì)模式或電壓激勵(lì)模式,并測量電流激勵(lì)模式或電壓激勵(lì)模式下除激勵(lì)電極以外的其余電極上的電壓;將測量電壓轉(zhuǎn)換為實(shí)際電壓值或?qū)㈦妷杭?lì)模型下的測量電流轉(zhuǎn)換為電壓以便后級電路處理;以及建立正問題和逆問題模型并輸入接觸阻抗和實(shí)際電壓值,以對玉米穗內(nèi)部的水分分布成像。本發(fā)明可實(shí)現(xiàn)在體無損測量玉米穗內(nèi)部水分分布情況。
聲明:
“玉米穗水分分布的電阻抗成像方法、系統(tǒng)及電子設(shè)備” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)