本發(fā)明涉及一種基于飛秒激光調(diào)制相位的單粒子快速識別裝置及方法,目的在于克服傳統(tǒng)光學(xué)成像無法識別單個(gè)金屬納米粒子的限制,利用飛秒激光激發(fā)并調(diào)制金屬納米粒子的多光子熒光過程,通過對比飛秒激光自干涉相位與金屬納米粒子的多光子熒光調(diào)制相位,實(shí)現(xiàn)單個(gè)金屬納米粒子的識別。本發(fā)明由飛秒激光雙光束制備系統(tǒng)、激光自干涉光強(qiáng)探測系統(tǒng)、多光子熒光激發(fā)與收集系統(tǒng)、數(shù)據(jù)提取與處理系統(tǒng)四個(gè)部分組成;相比于傳統(tǒng)暗場成像與熒光成像,不需要突破衍射極限,就可以識別單個(gè)金屬納米粒子。相比于掃描電子顯微鏡與原子力顯微鏡等表征方法,不需要特別制備樣品,不需要在真空條件下測量,可以實(shí)現(xiàn)原位無損探測,探測后的樣品可以繼續(xù)開展其他測量或者應(yīng)用。
聲明:
“基于飛秒激光調(diào)制相位的單粒子快速識別裝置及方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)