本申請?zhí)峁┮环N絕緣子表面RTV涂層涂覆效果評估方法、裝置及系統(tǒng),利用當待測絕緣子表面RTV涂層被加熱后,待測絕緣子表面RTV涂層的內(nèi)部由于涂層厚度不均勻的情況存在,溫場在趨于熱平衡的過程中變化方式不同,其表面溫場的變化方式也不同,通過主動紅外熱像評估方法采集分析上述信息來確定待測絕緣子表面RTV涂層的涂層夾雜和涂層厚度均勻性信息,進而對待測絕緣子表面RTV涂層涂覆效果進行整體評估,而且能夠做到無損評估,不會對待測絕緣子表面RTV涂層造成破壞和污染。
聲明:
“絕緣子表面RTV涂層涂覆效果評估方法、裝置及系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)