本發(fā)明涉及一種基于多層扇束掃描的工業(yè)CT掃描方法,屬于無損檢測技術(shù)領(lǐng)域,所述工業(yè)CT掃描方法為:令投影角度為β,X射線源和線陣探測器在Z=Z
down掃描并采集投影數(shù)據(jù),X射線源和線陣探測器沿著Z軸由Z=Z
down同步平移至Z=Z
up,采集投影數(shù)據(jù),X射線源和線陣探測器同步旋轉(zhuǎn)Δβ并沿著?Z軸由Z=Z
up同步平移至Z=Z
down,采集投影數(shù)據(jù),重復(fù),直至投影角度滿足π+2γ≤β≤2π,本發(fā)明線陣探測器和X射線源組成二維扇束掃描平面,同時,線陣探測器和X射線源在固定投影角度下平移,實現(xiàn)了掃描視野的縱向覆蓋,本發(fā)明所述掃描方法的旋轉(zhuǎn)角度不超過360°即可完成對被掃描物體的整體掃描,相比于螺旋掃描和旋轉(zhuǎn)?平移掃描,降低了線陣探測器和X射線源的旋轉(zhuǎn)角度范圍,進而降低了系統(tǒng)設(shè)計難度。
聲明:
“基于多層扇束掃描的工業(yè)CT掃描方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)