一種測試激光倍頻晶體性質(zhì)的裝置和方法,該裝置包括依次設(shè)置的激光光源、入射激光光路、載物臺、二次諧波激光光路、針孔、入射光濾色片和光電倍增管。測試時,利用激光倍頻晶體具有對入射激光進行倍頻的性質(zhì),采用激光對激光倍頻晶體進行照射,產(chǎn)生入射激光的二次諧波,用光電倍增管對出射的二次諧波進行接收,得到二次諧波的光強度,用該裝置對激光倍頻晶體不同區(qū)域進行照射,得到不同區(qū)域的二次諧波強度,通過分析不同區(qū)域產(chǎn)生二次諧波的強度,可對激光倍頻晶體的結(jié)構(gòu)和性質(zhì)進行判斷,無須對晶體進行破壞,就能分析出其內(nèi)部結(jié)構(gòu),實現(xiàn)了對激光倍頻晶體質(zhì)量的無損探測。
聲明:
“測試激光倍頻晶體性質(zhì)的裝置和方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)